SEM односторонняя кристальная силиконовая пластина полировка экспериментальные



Сохраните в закладки:

Цена:341,10 - 984,19RUB
*Стоимость могла изменится

Количество:


Новое поступление

Advanced Ceramic Esoterica

Advanced Ceramic Esoterica

Магазина Advanced Ceramic Esoterica работает с 23.10.2015. его рейтинг составлет 91.67 баллов из 100. В избранное добавили 617 покупателя. Средний рейтинг торваров продавца 4.8 в продаже представленно 1557 наименований товаров, успешно доставлено 143 заказов. 24 покупателей оставили отзывы о продавце.

Характеристики

SEM односторонняя кристальная силиконовая пластина полировка экспериментальные

История изменения цены

*Текущая стоимость 341,10 - 984,19 уже могла изменится. Что бы узнать актуальную цену и проверить наличие товара, нажмите "Добавить в корзину"

Месяц Минимальная цена Макс. стоимость Цена
Feb-18-2026 433.5 руб. 442.87 руб. 437.5 руб.
Jan-18-2026 351.46 руб. 358.72 руб. 354.5 руб.
Dec-18-2025 426.34 руб. 435.84 руб. 430.5 руб.
Nov-18-2025 423.79 руб. 431.70 руб. 427 руб.
Oct-18-2025 338.73 руб. 345.50 руб. 341.5 руб.
Sep-18-2025 416.22 руб. 424.36 руб. 420 руб.
Aug-18-2025 413.7 руб. 421.47 руб. 417 руб.
Jul-18-2025 409.23 руб. 417.59 руб. 413 руб.

Описание товара

SEM односторонняя кристальная силиконовая пластина полировка экспериментальныеSEM односторонняя кристальная силиконовая пластина полировка экспериментальныеSEM односторонняя кристальная силиконовая пластина полировка экспериментальныеSEM односторонняя кристальная силиконовая пластина полировка экспериментальныеSEM односторонняя кристальная силиконовая пластина полировка экспериментальные


Монокристаллическая Кремниевая пластина (односторонняя полировка)   Особенности:Высокая чистота кремния si одиночный Кристалл подложки, N/P Тип опционально, удельное сопротивление 0,0001-100 Ом, опционально Роста режим:Straight без застежки С украшением в виде кристаллов направленности:[111]/[100] Это действительно плоский экран:<1 микрон (измеряемая общая страница) Область применения:1.PVD/CVD покрытие в качестве подложки 2. Используется как XRD (рентгеновский Дифракционный анализ), SEM (сканирующий электронный микроскоп), FTIR инфракрасный, флуоресцентный спектральный анализ испытательной подложки, AFM (атомный силовой микроскоп) 3. Перевозчик образцов синхротронного излучения 4. Молекулярный луч эпитаксиального роста подложки 5. Процесс литографии полупроводников и т. Д. Классификация:6,25 × 6,25 × 0,5; 10 × 5 × 0,5; 10 × 10 × 0,5; 12,7 × 12,7 × 0,5; 15 × 15 × 0,5; 20 × 20 × 0,5; 25,4 × 25,4 × 0,5. Примечание:Другие размеры могут быть настроены.      

3 DS.jpg0  DS.jpg1  DS.jpg2  DS.jpg04  DS.jpg05  DS.jpg

   

 


Смотрите так же другие товары: